电子元器件高低温冲击试验箱

Name: 电子元器件高低温冲击试验箱2AP-CJ-80B
Brand: 开云网页版页面登录/APKJ
Price: 75000 CNY
Availability: InStock

简要描述：电子元器件高低温冲击试验箱也常称冷热冲击试验箱、温度冲击试验箱，是电子行业可靠性检测的核心专用设备，主要针对芯片、电阻电容、连接器、传感器、半导体封装、光电器件等各类电子元器件，模拟高温、低温瞬间交替切换的严苛环境工况。

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品牌	开云网页版页面登录/APKJ	价格区间	5万-10万
产地类别	国产	应用领域	电子/电池,道路/轨道/船舶,综合

电子元器件高低温冲击试验箱也常称冷热冲击试验箱、温度冲击试验箱，是电子行业可靠性检测的核心专用设备，主要针对芯片、电阻电容、连接器、传感器、半导体封装、光电器件等各类电子元器件，模拟高温、低温瞬间交替切换的严苛环境工况。

产品名称：三箱式冷热冲击试验箱（水冷式,含水塔）

型号：3AP-CJ-80B1

内容积：80L

内箱尺寸：500*400*400mm 　 (W* H *D)

外型尺寸(约)：1550*1800*1650mm (W* H *D)具体以实际尺寸为准

测试室温度范围：-55℃～+150 ℃ (水冷式)

低温冲击范围:-10℃～-55 ℃ （任意可调）

高温冲击范围:60℃～150 ℃ （任意可调）

预热温度范围:RT～+165℃

升温时间:+50℃→+165℃ ≤40min注：升温时间为高温室单独运转时的性能

预冷温度范围:RT～-70℃

降温时间:+20℃ → -70℃≤约90min注：降温时间为低温室单独运转时的性能

外壁材料：精粉体烤漆处理。

内壁材料：内板材质为优质SUS304不锈钢

控制器：开云网页版页面登录自主研发的7英寸超大触摸可程序温度控制器全触摸屏控制器

电子元器件高低温冲击试验箱

电子元器件高低温冲击试验箱通过快速温差冲击测试，检验电子元器件因热胀冷缩产生的物理形变、材质老化、结构开裂、电气性能衰减等问题，精准暴露产品生产、材质、工艺中的潜在缺陷，是电子元器件出厂筛选、新品研发、质量管控及合规检测的设备，广泛应用于消费电子、汽车电子、航空航天、通信、军工等领域。

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